Překlad/translate
.

Nákupní košík

Košík je prázdný

Vyhledávání

Pikoampérmetry
zpět

ModuLab XM MTS Materials Test System

ModuLab XM MTS Materials Test System
  • materiálový testovací systém
  • konfigurovatelná platforma pro testování vysokých odporů a impedancí jimiž jsou dielektrika a izolační materiály, anebo naopak pro testování vysoce vodivých materiálů
  • nabízí možnost jak časové analýzy (DC), tak frekvenční analýzy (AC)
  • volba testu, řízení měření a zobrazení výsledků jsou spravovány intuitivním PC SW XM-studio
  • zařízení ModuLab ve verzii XM MTS (Xtreme Measurement Materials Test System) je koncipováno pro výzkum materiálů, ale lze ho rozšířit také pro elektrochemické nebo fotoelektrochemické experimenty
  • záruka: 2 roky

 

Kód: ModuLab XM MTS


Cena na vyžádání

Doba doručení: na dotaz

Poptat

 

PARAMETRY A SPECIFIKACE:

Max. velikost měřené impedance  >100 TΩ (MAT + MHV100 + MFA + MREF)
Min. velikost měřené impedance  10 μΩ (MAT +MBST 2 A + MREF)
Max. napěťový rozsah 

±8 V (MAT)
±100 V (MHV100)

Max. rozlišení napěťového výstupu

400 μV (≥ 3 V, MAT)
150 μV (< 3 V, MAT)

Max. proudový rozsah    

± 100 mA (MAT)
± 2 A (MBST 2 A)

Max. proudové rozlišení 

1,5 pA (MAT)
0,15 fA (MFA)

Frekvence vzorkování

1 MS/s (MAT)
40 MS/s (MFRA)

Maximální frekvence generování vzorků  64 MS/s (MAT)
Rozsah frekvenční analýzy    10 μHz až 1MHz (MFRA)

DALŠÍ VLASTNOSTI:

  • Dvou nebo čtyřvodičové módy měření
  • Zařízení ve spolupráci s PC softwarem umožňuje vytváření automatických sekvencí DC a AC technik:
    • I-V měření pro charakterizaci elektronických a dielektrických materiálů
    • P-E měření (polarizace / elektrické pole) pro charakterizaci feroelektrických materiálů
    • vysoko-rychlostní impulzní měření pro elektronické a dielektrické materiály
    • schůdkové a hladké (jakoby analogové) rampové testy
    • vyhodnocení impedance, admitance, permitivity / kapacity elektrického modulu
    • C-V měření (kapacita vs. DC napětí), Mott-Schottkyho analýza
  • Řídící moduly:
    • XM MAT 1MHz – pro analýzu v časové oblasti
    • XM MFRA 1MHz – pro AC měření
  • Slave moduly pro modifikaci parametrů signálů:
    • XM MHV100 – vysokonapěťová volba (100 V)
    • XM MFA – volba pro nízké proudy
    • XM MREF  - modul pro zvýšení přesnosti AC analýzy
    • XM MBST 2A – volba vysokého proudu (2 A)
  • Možnost konfigurace víckanálového systému také v kombinaci s elektrochemickou sestavou, přičemž současná měření na kanálech mohou být ovládaná každá samostatně
  • Moduly jsou typu „plug and play“
  • SW XM-studio nabízí škálu možností analýzy dat jako přeložení křivek (fitting) získaných z ekvivalentního schématu, vyhodnocení FF (Fill Factor)
  • Multisinusová FFT analýza urychluje test prováděný přes celé frekvenční pásmo
  • Harmonická intermodulační analýza
  • Dostupnost příslušenství (Sample Holder, Cryostat...)

SOUBORY KE STAŽENÍ & ODKAZY:

Příslušenství

.