Překlad/translate
.

Nákupní košík

Košík je prázdný

Vyhledávání

Pikoampérmetry
zpět

Materials Lab XM - Materials Test System

Materials Lab XM - Materials Test System
  • materiálový testovací systém
  • patří do rodiny kompaktních Apps-XM (Application specific eXtreme Measurement) zařízení založených na technologiích pokročilé Modulab XM platformy
  • přesné DC měření (I-V, pulsy) a elektrochemická impedanční spektroskopie EIS (C-V, impedance, Mott-Schottkyho analýza) s okamžitým přepínáním mezi technikami bez změny zapojení
  • záruka: 2 roky

 

Kód: Materials Lab XM


Cena na vyžádání

Doba doručení: na dotaz

Poptat

 

PARAMETRY A SPECIFIKACE:

Napěťový rozsah ±8 V
Proudový rozsah ±300 mA
Napěťové rozlišení měření 1 μV
Proudové rozlišení 1,5 pA            
Frekvence vzorkování 1 MS/s
Maximální frekvence generovaní vzorků 64 MS/s
Napěťové rozlišení generátoru 400 μV (≥ 3 V)
150 μV (< 3 V)
Frekvence vzorkování FRA 40 MS/s
Rozsah frekvenční analýzy 10 μHz až 1 MHz

DALŠÍ VLASTNOSTI:

  • Dvou nebo čtyřvodičová módy měření
  • DC techniky v rychlé sekvenci za sebou (I-V, P-E, pulsy) se vzorkováním až do 1 MS/s
  • AC techniky analýzy frekvenční odezvy (FRA) zahrnují multisinusovou FFT, harmonickou a intermodulační analýzu
  • Zařízení vhodné pro charakterizaci OLED (Organic Light Emitting Diode), dielektrik či polovodičů
  • Měření v časové oblasti a AC testy lze řadit v sekvenci za sebou s okamžitým přepínáním umožňujícím využít DC a impulsní průběh pro aktivaci nosiče náboje a jejich následnou analýzu pomocí EIS
  • Čtyři pomocné kanály pro integraci synchronizovaného měření optickým, mechanickým nebo jiným převodníkem
  • Vysoké frekvenční rozlišení pro rezonanční charakterizaci
  • PC software XM-studio s připravenými šablonami a komfortním ovládáním od začátku testu přes analýzu dat až po generování reportu
    ​- ovládání testů včetně EIS, měření admitance, permitivity či kapacity
    - škála možností analýzy dat jako přeložení křivek (fitting) získaných z ekvivalentního schématu, vyhodnocení FF (Fill Factor), odhad parametrů (R, C, L, Warburg ...)
    - teplotní testy plně integrované v softwaru XM-studio s podporou připojení kryostatů, pícek a držáků vzorků
  • Dostupnost příslušenství (zesilovač, Sample Holder, Cryostat ...), kompatibilita s kontaktovacími stanicemi pro testování polovodičů

SOUBORY KE STAŽENÍ & ODKAZY:

Příslušenství

.