Dodavatelé
Novinky
29.08.2010 The Test&Measurement Newsletter od společnosti KEITHLEY
Společnost KEITHLEY vydala nový Newsletter pro testování ve výrobě a vývoji. Toto číslo je zaměřeno na to jak získat větší přesnost a výkon z přepínacích měřicích systémů.
19.08.2010 Jak získat certifikaci pro LXI produkt v pěti krocích
Přinášíme Vám další článek o přístrojích s LXI připojením
19.08.2010 Nová CD - technické poznámky pro měření nanotechnologií
Společnost KEITHLEY vydala nové CD s technickými poznámkami pro pomoc při měření různých nano-materiálů, struktur a zařízení
15.08.2010 LXI připojení
Přinášíme Vám pár článků o LXI standardech. LXI – the new LAN standard for networking T&M equipment - Jochen Wolle
11.08.2010 The Test&Measurement Newsletter od společnosti KEITHLEY
Společnost KEITHLEY vydala nový Newsletter zaměřený na testování ve výrobě a vývoji. Toto číslo je zaměřeno na zvýšení efektivnosti testování LED diod s vysokým jasem.
30.07.2010 Nove CD - NANOTECHNOLOGIE
Na novém CD od společnosti KEITHLEY jsou základní informace pro pochopení měření velice nízkých elektrických signálů. CD obsahuje technické knihovny pro měření v oblati nanotechnologií.
30.07.2010 Prodej analyzátoru napájecích sítí BK 550 MULTI
Jeden z našich zákazníků se snaží prodat analyzátor napájecích sítí BK 550 MULTI.
22.07.2010 Naučte se vypořádat s dnešními výzvami při testování LED
Společnost KEITHLEY připravila nový materiál o testování LED, kde objasňuje možnosti jejich přesného, spolehlivého a nákladově efektvního testování.
20.07.2010 The Test&Measurement Newsletter od společnosti KEITHLEY
Společnost KEITHLEY vydala nový Newsletter zaměřený na testování ve výrobě a vývoji. Toto číslo je zaměřeno na testování nových materiálů a zařízení pro zelenou elektroniku...
18.07.2010 KEITHLEY Model 4225-PMU Product Tour
Demo nové generace ultrarychlého I-V testování
18.06.2010 MILMEGA představila nový zesilovač
MILMEGA představila nový koncept zesilovač pro frekvence od 80 do 1000MHz a výkonu 250W P1dB.
18.06.2010 Poslední EMC standardy
IEC vydala opravu tiskové chyby pro EMC standard pro nízká napětí
18.06.2010 Nová aplikační poznámka
Společnost KEITHLEY vydala novou aplikační poznámku k vysokorychlostnímu testování LED diod s vysokým jasem.
18.06.2010 Poslední EMC standardy
Nový seznam harmonizovaných norem pro EMC směrnice
18.06.2010 Poslední EMC standardy
Volně ke stažení Radio Disturbance Characteristics - Limits and Methods of Measurement (Charakteristiky rádiového rušení - limity a metody)
18.06.2010 Nová přepínací karta s vysokou hustotou přepínacích relé
Společnost KEITHLEY představila novou přepínací maticovou kartu, model 3732, 4x28 s vysokou hustotou jazýčkových relé.
17.06.2010 Fundamentals and measurement techniques for phase change memory
V dubnu vyšel v magazínu Electronic Engineering Times Europe článek "Fundamentals and measurement techniques for phase change memory"
17.06.2010 Tipy pro charakterizaci zařízení, nových materiálů nebo technologií
Společnost KEITHLEY vydala novou elektronickou příručku.
17.06.2010 Common challenges in voltage switching
V dubnu vyšel v magazínu Electronic Product Design článek "Common challenges in voltage switching"
17.06.2010 RF/Microwave switching systems subtleties: achieving the performance you need
V květnu vyšel v magazínu Microwave Engineering Europe článek "RF/Microwave switching systems subtleties: achieving the performance you need"
09.06.2010 Existuje snadná cesta pro nastavení přístroje pro sběr dat?
Společnost KEITHLEY připravila demo ukázku jak je možné rychle nastavit požadované parametry u KEITHLEY DMM/DAQ přístrojů.
08.06.2010 Společnost KEITHLEY vydala nový Test&Measurement Newsletter pro testování ve vývoji a výrobě
Toto číslo je zaměřeno zejména na testování nano-materiálů, nano-struktur a nano-zařízení.
12.05.2010 Výkonná řešení pro automatické testování I-V charakteristik
Pro snadnou orientaci v produktech nabízejících automatizované testování I-V charakteristik, připravila společnost KEITHLEY stručného průvodce těmito přístroji
11.05.2010 Technický online seminář společnosti KEITHLEY zdarma
Společnost KEITHLEY připravila technický online seminář na téma "NOVÉ METODY TESTOVÁNÍ FLASH PAMĚTÍ".
05.05.2010 Průvodce k porozumění testování a měření na poli elektro
Společnost vydala nové CD - A Guide to Understanding Electrical Test and Measurement - toto CD můžete mít k dispozici zdarma
22.04.2010 Pozvánka na seminář společnosti KEITHLEY
Společnost KEITHLEY připravila online seminář na téma Principy ultra rychlého I-V testování
16.04.2010 KEITHLEY pro Global Solar Technology
Společnost KEITHLEY publikovala v časopise Global Solar Technology článek o I-V a C-V měření solárních článků
08.04.2010 FlashCORE III od Data I/O vyhrál 2010 NPI Award
Společnost Data I/O oznámila, že byla oceněna senou NPI Award v kategorii programovacích zařízení za jejich FlashCORE III.
06.04.2010 FlashCORE III od Data I/O byl označen za kvalitativní benchmark díky udělení ceny VISION Award 2010
Společnost Data I/Ooznámila, že byla oceněna v rámci SMT Vision Award 2010 v kategorii programovacích zařízení za její přístroj FlashCORE III
05.04.2010 Společnost Data I/O představila řešení programování pro osazovací stroje Siemens SIPLACE SX
Spolčnost Data I/O dnes představila řešení pro osazovací stroje Siemens SIPLACE SX pomocí ProLINE-RoadRunner.
05.04.2010 Společnost Data I/O představila nový ProLINE-RoadRunner pro osazovací stroje MYDATA
Společnost Data I/O dnes představila, že její ProLINE-RoadRunner může spolupracpovat s osazovacímy stroji MYDATA.
16.03.2010 NEWSLETTER společnosti KEITHLEY
Společnost KEITHLEY vydala nový newsletter zaměřený na představení nové možnosti testování pulsních I-V charakteristik.
10.03.2010 Nová karta 4225-PMU do systému 4200-SCS
Společnost KEITHLEY v těchto dnech uvádí na trh novou kartu do systému určeného pro parametrické testování polovodičů. Nová karta 4225-PMU Ultra-Fast I-V Modul, umožňuje velice rychlé měření I-V charakteristiky provádět stejně jednoduše jako klasické DC měčení.
17.02.2010 Technický online seminář společnosti KEITHLEY
Chtěli bychom Vás pozvat na online seminář společnosti KEITHLEY "How to Measure Phase Change Memory"
10.02.2010 KEITHLEY NEWSLETTER
Společnost KEITHLEY vydala nový NEWSLETTER The Test & Measurement Newsletter for production and R&D testing
07.02.2010 THD (total harmonic distortion)
Jaký je rozdíl mezi měřením THD (total harmonic distortion) a THD+NOISE?
04.02.2010 Přehled online seminářů společnosti ASSOCIATED RESEARCH na rok 2010
Výrobce přístrojů pro testy elektrické bezpečnosti, společnost ASSOCIATED RESEARCH, připravil také pro tento rok sadu webinářů, zaměřených na oblast testování elektrických zařízení pomocí vysokých napětí a proudů.
25.01.2010 KEITHLEY v akci
Přínášíme Vám pár obrázků přístrojů společnosti KEITHLEY v akci. Jedná se o vzdáleně prováděná měření, kdy jsou přístroje dálkově ovládány pomocí GPRS připojení.
14.01.2010 KEITHLEY DMM
Chcete vědět všechno o DMM společnosti KEITHLEY? Podívejte se na speciální stránky vytvořené za tímto účelem.
14.01.2010 Advanced particle beam methods for nano-characterization and analysis
Podívejte se na starší, ale stále aktuální prezentaci na téma: Advanced particle beam methods for nano-characterization and analysis; kterou připravila společnost KEITHLEY ve spolupráci se společností FEI.
14.01.2010 Tips, Tricks, and Traps for On-Wafer Probing
Společnost KEITHLEY připravila online seminar na tema Tips, Tricks, and Traps for On-Wafer Probing
12.01.2010 Měření nízkých hodnot
Máte problém s měřením nízkých hodnot proudu, napětí, odporu... Společnost KEITHLEY nabízí volně ke stažení publikaci Low Level Measurements Handbook ve formátu PDF.
11.01.2010 KEITHLEY na FB
Jste na FACEBOOKu? Staňte se fanouškem společnosti KEITHLEY.
07.01.2010 Testování solárních článků
Hledáte způsob jak efektivně a jednoduše testovat solární články? Podívejte se na stránky společnosti KEITHLEY do sekce "solar cell test resource center".
06.01.2010 Series 3700 Switch/Multimeter
Potřebujete sledovat trendy dat a analyzovat je, ale nemáte čas na programování příslušného software? Podívejte se jakou novinku Vám nabízí společnost KEITHLEY pro přístroje řady 3700.
22.12.2009 PF 2010
Vážení, chtěli bychom Vám touto cestou popřát příjemné a klidné prožití vánočních svátků. Do roku 2010 Vám přejeme hodně zdraví a štěstí, soukromých i pracovních úspěchů. Tým TESTE
15.12.2009 Nový přístroj pro měření odporů HIOKI
Japonský výrobce HIOKI uvedl na trh nový sedmimístný tester pro měření odporů s označením RM3542, vhodný zejména do automatizovaných testovacích systémů na linkách pro výrobu rezistorů, čipových induktorů a dalších prvků, vyžadujících velmi rychlý a spolehlivý proces testování.
02.12.2009 Photovoltaic Measurements
Společnost KEITHLEY připravila online seminář zaměření na testování fotovoltaických článků.
18.11.2009 Nový stejnosměrný napájecí zdroj o výkonu 1700W
Společnost AMETEK Programmable Power uvedla na trh nový stejnosměrný napájecí zdroj Sorensen o výkonu 1700W ve velmi kompaktním provedení o rozměrech 19'' a 1U.
29.10.2009 Zdroje KEPCO pro testování solárních zařízení II
Možnosti nasazení zdrojů řady KLP v oblasti solárních zařízení.
29.10.2009 Zdroje KEPCO pro testování solárních zařízení
Společnost KEPCO vydala další z řady aplikačních poznámek, tentokrát pro možnosti testování solárních zařízení pomocí čtyřkvadrantových napájecích zdrojů řady BOP 1kW.
01.09.2009 Rozhovor s Dr. Vicentem Rodriguezem z ETS-Lindgren na Symposiu IEEE v Austinu
Dr. Vincent Rodriguez z ETS-Lindgren v interviu na IEEE Symposiu v Austinu představuje nové řešení pro EMC testování při frekvencích nad 1GHz tak aby bylo v souladu s požadavky CISPR 16.
03.07.2009 Bezplatné online semináře společnosti ASSOCIATED RESEARCH
Výrobce přístrojů pro testování elektrické bezpečnosti, společnost ASSOCIATED RESEARCH, nabízí pravidelné online semináře pro zájemce z řad výrobců a servisních společností na téma bezpečnosti elektrických zařízení.
03.07.2009 Nový přehledový katalog AC/DC zdrojů společnosti AMETEK Programmable Power
Americký výrobce zdrojů Elgar, Sorensen a California Instruments - společnost AMETEK Programmable power, Inc. - vydal nový katalog s kompletním přehledem stejnosměrných a střídavých napájecích zdrojů a zátěží.
18.06.2009 Bezplatné online semináře na téma testování a měření
Společnost KEITHLEY Vám nabízí bezplatné online semináře zaměřené na testování a měření pomocí jejich přístrojů.
18.06.2009 University of Illinois - Měření solárních článků v praxi
Video z University of Illinois, kde vyvíjí solární články.
16.06.2009 Soutěž o účast na IEEE EMC Symposiu 2009 v Austinu
Společnost MILMEGA připravila pro své zákazníky soutěž, ve které můžete vyhrát úhradu cestovních nákladů, ubytování a vstupné na IEEE EMC Symposium 2009 v Austinu.
16.06.2009 Dotazník společnosti KEITHLEY na testování solárních článků.
Pomozte nám zdokonalit naše přístroje a věnujte pár minut vyplnění přiloženého dotazníku.
16.06.2009 Měření elektrických charakteristik fotovoltaických materiálů a solárních článků
Společnost KEITHLEY vydala popis jak pomocí Modelu 4200 (systém na měření polovodičových charakteristik) měřit elektrické charakteristiky (I-V, C-V, C-f, DLPC, odpor a Hallův jev) fotovoltaických materiálů a solárních článků
12.06.2009 Nová aplikační poznámka společnosti KEITHLEY - jak spojit 2602A a dosáhnout pulsu 40 A
Společnost KEITHLEY vydala novou aplikační poznámku, kde řeší jak spojit dva SourceMetery 2602A dohromady a získat tak puls 40A pro měření FET, IGBT, HB-LED, solárních článků, atd. Popřípadě jak kombinovat kanály tak, aby bylo možné napájet a měřit například 12A a 6V DC.
26.05.2009 Přehled KEITHLEY přístrojů pro měření solárních článků
Společnost KEITHLEY připravila ucelený přehled přístrojů, které je možné použít pro testování solárních článků.
19.05.2009 Seminář FOTOVOLTAICKÉ MĚŘENÍ
Společnost KEITHLEY připravila pro zájemce z řad svých zákazníků, seminář o fotovoltaickém měření.
07.05.2009 Nový Power Analyzer společnosti HIOKI
Nový model 3390 je určen pro kompletní analýzu výkonu na stejnosměrných i střídavých systémech. Vhodný je zejména pro vývoj nových energetických zdrojů – baterií využívajících solární nebo větrnou energii, konkrétně pro simultánní měření stejnosměrného i střídavého výkonu.
04.05.2009 EM TEST News Magazine
Společnost pro Vás připravila nový News Magazine
29.04.2009 Pokračování speciální akce společnosti KEITHLEY
Chtěli bychom Vám připomenout, že pokračuje speciální akce společnost KEITHLEY, v rámci které je na vybrané přístroje objednané do konce května 2009 sleva ve výši 10%.
21.04.2009 Aktualizace linku na přehled ucelených informací o sérii 2600A
Společnost KEITHLEY aktualizovala link, na kterém najdete veškeré informace k přístrojům řady 2600A.
21.04.2009 Semiconductor Device Test Applications Guide
Společnost KEITHLEY vydla novou elektronickou publikaci Semiconductor Device Test Applications Guide.
16.04.2009 SEMINews společnosti KEITHLEY
Společnost KEITHLEY vydala NEWSLETTER se zaměřením na oblast polovodičů.
21.01.2009 DriverLINX pro Data Acqusition Boards pro Windows Vista
Společnost KEITHLEY vydala novou verzi DriverLINX pro Data Acqusition Boards. Tato nová verze je kompatibilní s Windows Vista a podporuje Hyperthreading a vícejádrové procesorové systémy. Tento nový driver si již teď můžete stáhnout na stránkách společnosti KEITHLEY. Chtěli bychom Vás upozornit, že velikost stahovaného souboru je 186 MB.
19.01.2009 Nový AC napájecí zdroj Elgar od Ametek Programmable Power, Inc.
Společnost Ametek Programmable Power uvedla na trh novou sérii vysokovýkonných AC napájecích zdrojů/frekvenčních měničů XWAVE pro systémy vyžadující výkon od 30 do 480 kVA.
14.01.2009 Společnost Associated Research, Inc. získala Certifikát ISO 9001:2000
31.12.2008 Nový Keithley portál University Classroom
Společnost KEITHLEY spustila nový portál pro univerzity. Na stránkách www.keithley.com/re najdete mnoho zajímavého z oblastí základního elektrického měření, polovodičového měření, nanotechnologií, a vysokofrekvenčního a wireless měření.
31.12.2008 Příručky KEITHLEY
Společnost KEITHLEY vydala několik příruček, které mohou být užitečným pomocníkem při měření a testování. Příručky jsou k dostání zdarma při vyplnění kontaktního formuláře na našich stránkách.
01.08.2008 EM TEST - VCS 500N7T
Nový kombinovaný Surge/Telecom Surge tester až do 7kV
15.07.2008 Keithley rozšířil řadu 3700 System Switch/Multimeter o nové Plug-In karty
Cleveland, Ohio – Keithley Instruments, Inc. (NYSE:KEI), leader v řešeních pro vývojová měření, dnes oznámila rozšíření řady 3700 System Switch/Multimeter a Plug-in karet o dvě nové plug-in karty, Model 3724 Dual 1X30 Solid State FET Relay Multiplexer Card a Model 3750 Multifunction I/O Card.
15.07.2008 KTEI V7.1 Upgrade pro model 4200-SCS Semiconductor Characterization System rozšířil C-V, I-V, and Pulsed I-V Characterization
Cleveland, Ohio – Keithley Instruments, Inc. (NYSE:KEI), leader v řešeních pro vývojová měření dnes představil Keithley Test Environment Interactive (KTEI) V7.1 pro oceněný model 4200-SCS Semiconductor Characterization System.
01.07.2008 EM TEST - VCS 500N4
Zvýšeno maximální napětí pro testování - až do 4.4kV
Copyright © 2009 Teste - Testovací technika s.r.o.